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原子力顯微鏡原理:接觸式,非接觸式,輕敲式有何區(qū)別?原子力顯微鏡原理(atomic force microscope, AFM)
由于STM侷限于試片的導(dǎo)電性質(zhì),使得應(yīng)用范圍大大的減少,為了能有更廣泛的應(yīng)用科用,故改用力場(chǎng)作回饋而發(fā)展出原子顯微儀(atomic force microscope, AFM),而因?yàn)閷?duì)導(dǎo)體及絕緣體均有三維空間的顯影能力,所以成為運(yùn)用最廣泛的掃描探針顯微儀。圖4-1為原子力顯微鏡的簡(jiǎn)單示意圖。
圖4-1 原子力顯微鏡的示意圖[1]
原子力顯微鏡(AFM)屬于掃描探針顯微技術(shù)(SPM)的一支,此類顯微技術(shù)都是利用特製的微小探針,來(lái)偵測(cè)探針與樣品表面之間的某種交互作用,如穿隧電流、原子力、磁力、近場(chǎng)電磁波等等,然后使用一個(gè)具有三軸位移的壓電陶瓷掃描器,使探針在樣品表面做左右前后掃描(或樣品做掃描),并利用此掃描器的垂直微調(diào)能力及迴饋電路,讓探針與樣品問(wèn)的交互作用在掃描過(guò)程中維持固定,此時(shí)兩者距離在數(shù)至數(shù)百A°(10-10m)之間,而只要記錄掃描面上每點(diǎn)的垂直微調(diào)距離,我們便能得到樣品表面的等交互作用圖像,這些資料便可用來(lái)推導(dǎo)出樣品表面特性。圖4-2是原子力顯微鏡(AFM)的結(jié)構(gòu)示意圖。
AFM的主要結(jié)構(gòu)可分為探針、偏移量偵測(cè)器、掃描器、迴饋電路及電腦控制系統(tǒng)五大部分,距離控制方式為光束偏折技術(shù),光系由二極體雷射產(chǎn)生出來(lái)后,聚焦在鍍有金屬薄膜的探針尖端背面,然后光束被反射至四象限光電二極體,在經(jīng)過(guò)放大電路轉(zhuǎn)成電壓訊號(hào)后,垂直部份的兩個(gè)電壓訊號(hào)相減得到差分訊號(hào),當(dāng)電腦控制X、y軸驅(qū)動(dòng)器使樣品掃描時(shí),探針會(huì)上下偏移,差分訊號(hào)也跟著改變,因此迴饋電路便控制z軸驅(qū)動(dòng)器調(diào)整探針與樣品距離,此距離微調(diào)或其他訊號(hào)送入電腦中,記錄成為X、Y的函數(shù),便是AFM影像。
圖4-2 原子力顯微鏡(AFM)的結(jié)構(gòu)示意圖
探針是由一個(gè)針尖附在一支橫桿前端所組成,探針尖端與樣品表面接觸時(shí),由于橫桿彈性系數(shù)和原子間的作用力相當(dāng),因此探針尖端的原子與樣品表面原子的作用力便會(huì)使橫桿在垂直力方向移動(dòng),作用力來(lái)源包括探針和表面的凡得瓦力(Van der Waals force)與探針和表面的外層電子之間的庫(kù)倫排斥力。所以樣品的表面高低起伏造成橫桿作上下偏移。而具有三軸位移能力的壓電材料掃描器(piezoelectric scanner)使樣品能在選定的區(qū)域范圍做來(lái)回掃瞄,偵測(cè)橫桿偏移量,系統(tǒng)的回饋電路與壓電材料掃描器在高度軸上距離微調(diào)功能結(jié)合,藉由調(diào)整探針與樣品距離,以維持掃描過(guò)程中固定的原子,所以當(dāng)AFM掃描一個(gè)區(qū)域,便把垂直微調(diào)距離,以二維內(nèi)函數(shù)儲(chǔ)存起來(lái),形成所謂掃描區(qū)域的原子力圖像,這通常對(duì)應(yīng)于掃描區(qū)域表面高低起伏的影像,也稱高度影像。測(cè)量探針偏移量的方法目前,最常用的機(jī)制為光束偏移(如圖4),光是由二極體雷射出來(lái)的,然后被聚焦在橫桿尖端背上,由于鍍上高反射率的金屬薄膜(通常是金),雷射光反射到高靈敏度的位置偵測(cè)器(position sensitive detector)。它是二象限或四象限的光電二極體為,經(jīng)由電流放大后,我們可以將這兩個(gè)電壓訊號(hào)相減,得到通稱的差分訊號(hào)(A-B)。當(dāng)橫桿有上下偏移時(shí),差分訊號(hào)也相對(duì)產(chǎn)生變數(shù),所以我們可以得到偏移量。光束偏斜機(jī)制具有0.1A的解析能力,不過(guò)在一般大氣環(huán)境中,表現(xiàn)會(huì)較差。另外如果使用四象限光電二極體,垂直與水平差分訊號(hào)便可以同時(shí)得到,因此橫桿上下左右偏移量可同時(shí)被測(cè)出。
AFM的探針是由針尖附在懸臂梁前端所組成,當(dāng)探針尖端與樣品表面接觸時(shí),由于懸臂梁的彈性系數(shù)與原子間的作用力常數(shù)相當(dāng),因此針尖原子與樣品表面原子的作用力便會(huì)使探針在垂直方向移動(dòng),簡(jiǎn)單的說(shuō)就是樣品表面的高低起伏使探針作上下偏移,而藉著調(diào)整探針與樣品距離,便可在掃描過(guò)程中維持固定的原子力,此垂直微調(diào)距離,或簡(jiǎn)稱為高度,便可當(dāng)成二維函數(shù)儲(chǔ)存起來(lái),也就是掃描區(qū)域的等原子力圖像,這通常對(duì)應(yīng)于樣品的表面地形,一般稱為高度影像。
原子力顯微鏡(AFM)與掃描隧道顯微鏡(STM)最大的差別在于并非利用電子隧道效應(yīng),而是利用原子之間的凡得瓦力(Van Der Waals Force)作用來(lái)呈現(xiàn)樣品的表面特性。假設(shè)兩個(gè)原子中,一個(gè)是在懸臂(cantilever)的探針尖端,另一個(gè)是在樣本的表面,它們之間的作用力會(huì)隨距離的改變而變化,其作用力與距離的關(guān)系如“圖2-2”所示,當(dāng)原子與原子很接近時(shí),彼此電子云斥力的作用大于原子核與電子云之間的吸引力作用,所以整個(gè)合力表現(xiàn)為斥力的作用,反之若兩原子分開有一定距離時(shí),其電子云斥力的作用小于彼此原子核與電子云之間的吸引力作用,故整個(gè)合力表現(xiàn)為引力的作用。若以能量的角度來(lái)看,這種原子與原子之間的距離與彼此之間能量的大小也可從Lennard –Jones的公式中到另一種印證。
為原子的直徑;為原子之間的距離
從公式中知道,當(dāng)r降低到某一程度時(shí)其能量為+E,也代表了在空間中兩個(gè)原子是相當(dāng)接近且能量為正值,若假設(shè)r增加到某一程度時(shí),其能量就會(huì)為-E同時(shí)也說(shuō)明了空間中兩個(gè)原子之間距離相當(dāng)遠(yuǎn)的且能量為負(fù)值。不管從空間上去看兩個(gè)原子之間的距離與其所導(dǎo)致的吸引力和斥力或是從當(dāng)中能量的關(guān)系來(lái)看,原子力顯微鏡就是利用原子之間那奇妙的關(guān)系來(lái)把原子樣子給呈現(xiàn)出來(lái),讓微觀的世界不再神秘。在原子力顯微鏡的系統(tǒng)中,是利用微小探針與待測(cè)物之間交互作用力,來(lái)呈現(xiàn)待測(cè)物的表面之物理特性。所以在原子力顯微鏡中也利用斥力與吸引力的方式發(fā)展出兩種操作模式:
(1)利用原子斥力的變化而產(chǎn)生表面輪廓為接觸式原子力顯微鏡(contact AFM),探針與試片的距離約數(shù)個(gè)Å。
(2)利用原子吸引力的變化而產(chǎn)生表面輪廓為非接觸式原子力顯微鏡(non-contact AFM),探針與試片的距離約數(shù)十到數(shù)百Å。
AFM的操作模式可大略分為以下三種:分成接觸式(Contact mode)、輕敲式(Tapping mode)、非接觸式(Non-contact Mode) 3種模式。
a.接觸式
在接觸式操作下,探針與樣品問(wèn)的作用力是原子間的排斥力,這是最早被發(fā)展出來(lái)的操作模式,由于排斥力對(duì)距離非常敏感,所以接觸式AFM較容易得到原子解析度。在一般的接觸式量測(cè)中,探針與樣品問(wèn)的作用力很小,約為10-6至10-10N(Newton),但由于接觸面積極小,因此過(guò)大的作用力仍會(huì)損壞樣品表面,但較大的的作用力通??傻玫捷^佳的解析度。因此選擇適當(dāng)?shù)牡淖饔昧?,接觸式的操作模式是十分重要的。接觸式的AFM利用探針和樣品原子間的排斥力(repulsive force),原子力間的排斥力對(duì)距離的變化是非常敏感。是利用具有懸臂的探針接觸且輕壓表面,由于反作用力使得探針的懸臂產(chǎn)生偏折,而偏折量的大小代表反作用力的大小,所以掃描表面時(shí)利用維持相同的偏折量就可以描繪出3D的表面結(jié)構(gòu) (圖4-3)。
圖4-3 接觸式AFM[1]
就AFM的操作模式比較起來(lái),接觸式(contact mode)較能夠得到原子尺度的解析度,一般的接觸量測(cè)中,探針和試片間作用力約為10-6~10-9牛頓(N),但接觸 面積極小,相對(duì)形成過(guò)大的作用力可能損害樣品,尤其是軟性材質(zhì)。因此設(shè)定適當(dāng)?shù)淖饔昧κ欠浅V匾摹?/div>
b.非接觸式(Non-contact Mode)
為了解決接觸式AFM可能損壞樣品的缺點(diǎn),便有非接觸式AFM發(fā)展出來(lái),這是利用原子間的長(zhǎng)距離吸引力『凡德瓦爾力』來(lái)運(yùn)作。凡德瓦爾力對(duì)距離的變化非常小,因此必須使用調(diào)變技術(shù)來(lái)增強(qiáng)訊號(hào)對(duì)雜訊比,便能得到等作用力圖像,這也就是樣品的高度影像。一般非接觸式AFM只有約50nm(10-9m)的解析度,不過(guò)在真空環(huán)境下操作,其解析度可達(dá)原子級(jí)的解析度,是AFM中解析度最佳的操作模式。
此為輕敲式的衍生,一樣利用探針跳動(dòng)來(lái)掃描,但是探針始終都不接觸表面,而是利用表面上所存在的凡得瓦爾力吸引會(huì)改變振幅的大小做回饋,因此若是AFM在大氣中操作時(shí),試片表面常會(huì)吸附一層水,所以在討論探針和試片交互作用時(shí),必須考慮探針與試片表面水膜間的毛細(xì)孔現(xiàn)象。非接觸式由于不是直接接觸表面,所以所呈現(xiàn)的影像解析度較差,大約只能達(dá)50nm。
c.輕敲式(Tapping-Mode)
第三種輕敲式AFM則是將非接觸式加以改良,其原理系將探針與樣品距離加近,然后增大振幅,使探針在振盪至波谷時(shí)接觸樣品,由于樣品的表面高低起伏,使得振幅改變,再利用類似非接觸式的迴饋控制方式,便能取得高度影像。由于接觸式掃描容易刮傷試片表面,所以后來(lái)改用驅(qū)動(dòng)探針跳動(dòng)來(lái)掃描試片,如此接觸試片表面時(shí)探針施予的力量不但小了許多,且只有正向作用力,但是此時(shí)系統(tǒng)不再利用探針懸臂的偏折量來(lái)作回饋,而是探針跳動(dòng)時(shí)懸臂的振幅量來(lái)回饋。其示意圖如圖4-4所示。
圖4-4 輕敲式AFM[1]
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