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CM120BD-AF研究級(jí)電動(dòng)12寸大平臺(tái)半導(dǎo)體檢查顯微鏡 采用電動(dòng)物鏡轉(zhuǎn)換器,支持軟件及按鈕雙控,配置12寸大平臺(tái),帶快速移動(dòng)裝置,配置有偏光裝置
產(chǎn)品介紹產(chǎn)品概述 研究級(jí)電動(dòng)12寸大平臺(tái)半導(dǎo)體檢查顯微鏡CM120BD廣泛應(yīng)用于芯片/晶圓/LCD,粒子爆破檢查等行業(yè)使用。采用半復(fù)消技術(shù),集明場(chǎng),暗場(chǎng)及偏光等多種照明方式,任何觀察都能呈現(xiàn)清晰銳利的顯微圖像,其微分干涉效果可與進(jìn)口品牌相媲美。用戶可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用進(jìn)行功能選擇,是工業(yè)檢測(cè)的有效工具。機(jī)器采用電動(dòng)轉(zhuǎn)換器,物理按鈕和軟件雙控,進(jìn)行遠(yuǎn)位數(shù)調(diào)節(jié),12寸大工作平臺(tái)特別是針對(duì)線路板切片測(cè)量,晶圓檢測(cè),金相材料,高分子材料等尺寸較大的樣器進(jìn)行分析檢測(cè),本機(jī)配備了偏振系統(tǒng)可做偏光檢測(cè),在半導(dǎo)體和PCB檢測(cè)中,可消除雜光,細(xì)節(jié)更加清晰。同時(shí)可以選配DIC干涉附件插入DlC棱鏡,可進(jìn)行DIC微分干涉相襯觀察。DIC技術(shù)可以使物體表面微小的高低差產(chǎn)生明顯的浮雕效果,大幅提高圖像對(duì)比度,特別適合觀察導(dǎo)電粒子。 性能特點(diǎn) 1、采用電動(dòng)物鏡轉(zhuǎn)換器,支持軟件及按鈕雙控。 2、配置12寸大平臺(tái),帶快速移動(dòng)裝置。 3、配置有偏光裝置,適合觀察高反光材料的表面; 4、采用高亮度10WLED照明,觀察舒適使用壽命長(zhǎng),不發(fā)熱。 技術(shù)參數(shù)顯微鏡參數(shù)
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